测量项目

仪器名称

仪器型号

仪器商家

薄膜的晶相生长

X射线衍射（XRD）

D/MAX3C

Rigaku

薄膜的表面形貌

原子力显微镜(AFM)

NT-MDT Solver P47-Pro

Russia

薄膜厚度及EDAX

扫描电子显微镜(SEM)

Hitachi S-4700

Hitachi

Au纳米颗粒的大小

透射电子显微镜(TEM)

Tecnai G2 F20 S-TWIN

FEI

薄膜的元素成分

电子能谱仪测定(XPS)

ESCALAB250

Thermo-VG Scientific

紫外-可见吸收光谱

紫外-可见分光光度计

Lambda 750UV/ViS/NIR

PerkinEImer

光致发光光谱

X射线荧光光谱仪

AXIOS advanced

PANalytical

薄膜的铁电性

铁电测试系统

Precision Workstation

radiant

薄膜漏电流

静电计/高阻计

6517B

Keithley

IPCE的测量

内外量子效率测试仪

IPCE/QE200

Newport

光电化学性能测试

电化学工作站

CHI-600D

上海辰华