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公开(公告)日

当前申请(专利权)人

ES2642350T3

11

自动识别单层和/或几层薄膜材料

2017-11-16

丹麦技术大学

KR1020150139432A

6

极细石墨烯的X射线分析方法

2015-12-11

窯業技術院

JP5874981B2

5

确定二维薄膜原子结构的层数的方法和用于确定二维薄膜原子结构的层数的装置

2016-03-02

日本电気株式会社，独立行政法人物质·材料研究机构