样品编号 | 氧化条件 | 椭偏仪膜厚测试 | 离子注入条件 | 激活退火条件 |
A | Wetoxidation,1050˚C,6 h | Si face: 40 nm ± 5 nm; Cface: 380 nm ± 5 nm | Fion: 25 KeV 5E13 cm−2 | w/o |
B | 500˚C,2 min | |||
C | 700˚C,2 min | |||
D | 900˚C,2 min | |||
E | 1100˚C,2 min |